HIOKI日置日本原裝測(cè)試線低阻抗導(dǎo)線

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HIOKI日置日本原裝測(cè)試線低阻抗導(dǎo)線
其低阻抗導(dǎo)線優(yōu)勢(shì)源于專業(yè)材質(zhì)與工藝：導(dǎo)線導(dǎo)體采用高純度無(wú)氧銅材質(zhì)，純度達(dá) 99.99% 以上，相較于普通銅導(dǎo)線，電阻值降低 20% 以上，實(shí)測(cè) 20℃環(huán)境下 1m 導(dǎo)線阻抗僅 0.015Ω，有效減少電流傳輸過(guò)程中的能量損耗。同時(shí)，導(dǎo)體采用多股細(xì)銅絲絞合結(jié)構(gòu)，股數(shù)達(dá) 48 股，不僅提升導(dǎo)線柔性，更通過(guò)增加導(dǎo)體表面積進(jìn)一步降低集膚效應(yīng)影響，即便在 1MHz 高頻

產(chǎn)品型號(hào)：QC-20D-M-DBPA

更新時(shí)間：2025-09-25

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品牌	HIOKI/日本日置	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,能源,鋼鐵/金屬,綜合

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HIOKI日置日本原裝測(cè)試線低阻抗導(dǎo)線

作為 HIOKI 日置精密測(cè)量配件家族的核心型號(hào)，L2103 日本原裝測(cè)試線以低阻抗導(dǎo)線設(shè)計(jì)為技術(shù)核心，憑借信號(hào)衰減小、傳輸穩(wěn)定的優(yōu)異性能，成為微電阻測(cè)量、高頻信號(hào)檢測(cè)等場(chǎng)景的關(guān)鍵輔助工具，契合電子研發(fā)、工業(yè)質(zhì)檢對(duì)測(cè)量精度的嚴(yán)苛要求。

其低阻抗導(dǎo)線優(yōu)勢(shì)源于專業(yè)材質(zhì)與工藝：導(dǎo)線導(dǎo)體采用高純度無(wú)氧銅材質(zhì)，純度達(dá) 99.99% 以上，相較于普通銅導(dǎo)線，電阻值降低 20% 以上，實(shí)測(cè) 20℃環(huán)境下 1m 導(dǎo)線阻抗僅 0.015Ω，有效減少電流傳輸過(guò)程中的能量損耗。同時(shí)，導(dǎo)體采用多股細(xì)銅絲絞合結(jié)構(gòu)，股數(shù)達(dá) 48 股，不僅提升導(dǎo)線柔性，更通過(guò)增加導(dǎo)體表面積進(jìn)一步降低集膚效應(yīng)影響，即便在 1MHz 高頻信號(hào)測(cè)量場(chǎng)景中，阻抗變化也控制在 ±5% 以內(nèi)，確保高頻信號(hào)穩(wěn)定傳輸。導(dǎo)線外覆超薄聚四氟乙烯（PTFE）絕緣層，厚度僅 0.1mm，在保障 300V 耐壓安全的同時(shí)，避免絕緣層對(duì)信號(hào)傳輸?shù)母蓴_，進(jìn)一步優(yōu)化整體阻抗性能。

低阻抗特性為測(cè)量精度帶來(lái)顯著提升：在搭配 RM3544 等高精度電阻計(jì)進(jìn)行微電阻測(cè)量時(shí)，低阻抗導(dǎo)線可最大限度抵消導(dǎo)線自身電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，使測(cè)量誤差控制在 ±0.01% 以內(nèi)，例如檢測(cè) 10mΩ 的微小電阻時(shí)，導(dǎo)線引入的誤差不足 0.001mΩ，遠(yuǎn)優(yōu)于行業(yè)常規(guī)測(cè)試線水平。此外，低阻抗設(shè)計(jì)還能減少信號(hào)衰減，在 1.5m 導(dǎo)線長(zhǎng)度下，信號(hào)衰減率≤0.1%，確保遠(yuǎn)距離測(cè)量時(shí)數(shù)據(jù)依然精準(zhǔn)，尤其適合大型設(shè)備內(nèi)部深處的信號(hào)采集場(chǎng)景。

在場(chǎng)景適配與耐用性上，該測(cè)試線同樣表現(xiàn)出色：配備 0.1mm 的鍍鎳探針，可精準(zhǔn)接觸密集焊點(diǎn)或芯片引腳；導(dǎo)線耐溫范圍達(dá) - 20℃~120℃，適配實(shí)驗(yàn)室、車間等多環(huán)境使用；整體結(jié)構(gòu)經(jīng) 10000 次彎折測(cè)試無(wú)斷裂，滿足高頻次測(cè)量需求。無(wú)論是電子元件的微電阻檢測(cè)，還是新能源設(shè)備的信號(hào)采集，L2103 測(cè)試線的低阻抗導(dǎo)線都能以高保真?zhèn)鬏斝阅埽瑸榫軠y(cè)量提供可靠保障。

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